低(di)本(ben)底多(duo)道(dao)γ能(neng)譜(pu)儀是(shi)壹(yi)種(zhong)用(yong)於測量放(fang)射(she)性物質(zhi)γ射(she)線(xian)能量(liang)的(de)輻(fu)射儀器(qi)，其操作規程(cheng)包(bao)括(kuo)多(duo)個(ge)步(bu)驟(zhou)，旨(zhi)在確(que)保(bao)測量的(de)準(zhun)確(que)性(xing)和可(ke)靠性(xing)。以(yi)下是低(di)本(ben)底多(duo)道(dao)γ能(neng)譜(pu)儀測量方(fang)法(fa)與(yu)步(bu)驟(zhou)概(gai)述(shu)： 1.開機前(qian)檢查：
檢查設(she)備、電(dian)源及電(dian)路是否(fou)正常。
2.預熱(re)：
開啟(qi)電(dian)源，啟(qi)動電(dian)腦，並讓儀器(qi)運行壹(yi)段時(shi)間(jian)進行預熱(re)，但此時(shi)不(bu)論測量或(huo)其他行為(wei)均不能(neng)作為(wei)報告結(jie)論引入，需廢(fei)棄(qi)。預熱(re)的(de)目(mu)的(de)是讓儀器(qi)更(geng)好(hao)地(di)運行在穩(wen)定(ding)狀(zhuang)態(tai)。
3.制(zhi)樣：
按(an)照GB6566-2010等標準(zhun)進行抽樣(yang)、制(zhi)樣，最(zui)終測試(shi)時樣(yang)品細(xi)度需<0.16mm。抽樣(yang)的(de)目(mu)的(de)是使(shi)樣品的(de)物理特(te)性與標準(zhun)物質(zhi)的(de)物理特(te)性基(ji)本壹(yi)致(zhi)，以(yi)保(bao)證(zheng)相(xiang)對測量結(jie)果具(ju)有可(ke)比較性。
4.樣品測量：
將(jiang)樣(yang)品放置於(yu)探(tan)測器上(shang)面(mian)，要(yao)求(qiu)樣品(pin)與探(tan)測器基(ji)本同(tong)軸(zhou)。
進入分(fen)析(xi)程(cheng)序(xu)，設(she)定(ding)樣品(pin)信息。
確(que)認(ren)設(she)備連(lian)接(jie)運行正常，開始(shi)測量。
測量結(jie)束後(hou)保(bao)存(cun)能譜(pu)數據(ju)、設(she)定(ding)分(fen)析(xi)敏(min)感(gan)區(qu)域、分(fen)析(xi)樣(yang)品(pin)。
確(que)認(ren)分(fen)析(xi)結(jie)果。
預覽報(bao)告(gao)、打印(yin)報(bao)告(gao)。
5.采(cai)樣(yang)時(shi)間(jian)的(de)選(xuan)擇(ze)：
對所(suo)有樣品(pin)的(de)采(cai)樣(yang)時(shi)間(jian)不低(di)於(yu)2000s，但也不(bu)要(yao)超過24小(xiao)時。對核(he)素(su)含(han)量(liang)較高的(de)樣品(pin)，測量時(shi)間(jian)可(ke)以(yi)相(xiang)對縮短；對核(he)素(su)含(han)量(liang)較低(di)的(de)樣品(pin)，采(cai)樣(yang)時(shi)間(jian)要(yao)延長到10000s或(huo)更(geng)長。用(yong)戶可(ke)以(yi)設(she)置采(cai)樣(yang)時(shi)間(jian)為(wei)20000s或(huo)更(geng)長，然後(hou)在采(cai)樣(yang)的(de)過程(cheng)中(zhong)註(zhu)意觀察(cha)樣品(pin)譜(pu)線(xian)，當樣(yang)品(pin)譜線(xian)已經基(ji)本定(ding)型(xing)時(shi)，可(ke)停(ting)止采(cai)樣(yang)並(bing)保(bao)存(cun)、計算(suan)。如(ru)果計(ji)算(suan)結(jie)果處(chu)於(yu)臨(lin)界(jie)值(zhi)，請適(shi)當延長測量時(shi)間(jian)，以(yi)使結(jie)果更(geng)可(ke)靠。
6.低(di)本(ben)底多(duo)道(dao)γ能(neng)譜(pu)儀的(de)最佳使(shi)用(yong)條(tiao)件(jian)：
禁(jin)止在0℃以(yi)下，50℃以(yi)上(shang)工(gong)作。建議(yi)用(yong)戶在23±2℃，濕(shi)度50%±10%，溫(wen)度波動2℃的(de)環境(jing)下使用(yong)。這也是(shi)儀器(qi)出(chu)廠刻度時(shi)的(de)測試(shi)環境(jing)。如(ru)果用(yong)戶在室溫下使用(yong)，則(ze)需在室溫下進行刻度，即(ji)保(bao)證(zheng)測試(shi)時的(de)環境(jing)條(tiao)件(jian)和(he)刻(ke)度(du)時的(de)環境(jing)條(tiao)件(jian)相(xiang)壹(yi)致(zhi)。
7.重新刻(ke)度(du)周(zhou)期(qi)：
對於新機器，由於(yu)光(guang)電(dian)倍增管(guan)的(de)效率(lv)不(bu)穩(wen)定(ding)，因此(ci)建議連續(xu)開機運行壹(yi)周(zhou)，已(yi)使(shi)設(she)備充分(fen)老化穩(wen)定(ding)。在前(qian)6個(ge)月(yue)內，在有空調(tiao)的(de)恒溫(wen)實驗室，每兩個(ge)月(yue)進行壹次刻(ke)度(du)；如(ru)果是(shi)非(fei)恒溫(wen)室，則(ze)每個(ge)月(yue)進行壹次刻(ke)度(du)。對連續(xu)6個(ge)月(yue)無維修(xiu)記錄的(de)機器，如(ru)果是(shi)有空調(tiao)的(de)恒溫(wen)實驗室，則(ze)可(ke)3個(ge)月(yue)進行壹次刻(ke)度(du)；如(ru)果是(shi)非(fei)恒溫(wen)室則(ze)仍須每(mei)個(ge)月(yue)進行壹次刻(ke)度(du)。
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