近(jin)紅外全(quan)波段分光光度計的(de)開(kai)機(ji)與(yu)初(chu)始(shi)化

　　以下(xia)是近(jin)紅外全(quan)波段分光光度計操(cao)作(zuo)的(de)詳細技巧：

　　壹、開(kai)機(ji)前準(zhun)備

　　1.環(huan)境檢查(zha)

　　確(que)保儀(yi)器放置在(zai)穩(wen)定、平(ping)整的(de)實驗(yan)臺(tai)上(shang)，避(bi)免(mian)震動和晃動。儀(yi)器周(zhou)圍(wei)環境應(ying)保持清(qing)潔(jie)，無灰(hui)塵(chen)、腐(fu)蝕性氣體(ti)和(he)強(qiang)電磁幹擾(rao)。溫度(du)和濕(shi)度應(ying)符(fu)合儀(yi)器的(de)使用(yong)要(yao)求，壹般溫度(du)控制(zhi)在(zai)15 - 30℃，相(xiang)對(dui)濕(shi)度在(zai)45% - 75%。

　　檢查(zha)電源(yuan)電壓(ya)是否(fou)符(fu)合儀(yi)器規(gui)定(ding)的(de)範圍(wei)，壹般波動範圍(wei)應(ying)在(zai)額定電壓(ya)的(de)±10%以(yi)內。

　　2.樣(yang)品(pin)準(zhun)備

　　根(gen)據分(fen)析(xi)目的(de)，準(zhun)備好(hao)合適(shi)的(de)樣(yang)品(pin)。樣(yang)品(pin)應(ying)該(gai)是均(jun)勻(yun)的(de)，對(dui)於固(gu)體(ti)樣(yang)品(pin)，可(ke)能(neng)需(xu)要(yao)研磨、過(guo)篩等(deng)預處理；對(dui)於液(ye)體(ti)樣(yang)品(pin)，要(yao)確(que)保其(qi)澄清(qing)透(tou)明(ming)，無氣(qi)泡和雜質(zhi)。如果(guo)是進(jin)行(xing)定量分析(xi)，還需(xu)要(yao)準(zhun)備壹系(xi)列濃度已知的(de)標(biao)準(zhun)樣(yang)品(pin)。

　　二(er)、近(jin)紅外全(quan)波段分光光度計開機(ji)與初(chu)始(shi)化

　　1.開(kai)啟(qi)儀(yi)器

　　打(da)開(kai)分光光度計的(de)電源(yuan)開關(guan)，等(deng)待儀(yi)器自(zi)檢完(wan)成(cheng)。在(zai)自檢過(guo)程(cheng)中(zhong)，不(bu)要(yao)進(jin)行(xing)任(ren)何(he)操(cao)作(zuo)，以免(mian)影響儀(yi)器的(de)正(zheng)常(chang)啟(qi)動。

　　2.初始(shi)化設(she)置

　　儀(yi)器自(zi)檢完(wan)成(cheng)後(hou)，進(jin)入初(chu)始(shi)化設(she)置界(jie)面(mian)。根(gen)據測(ce)試(shi)需(xu)求(qiu)，選(xuan)擇合適(shi)的(de)測(ce)量模式，如透(tou)射(she)、反(fan)射(she)或(huo)漫(man)反射(she)模式。對(dui)於不(bu)同的(de)樣(yang)品(pin)類(lei)型(xing)，壹般固(gu)體(ti)樣(yang)品(pin)多采(cai)用(yong)反(fan)射(she)或(huo)漫(man)反射(she)模式，液體(ti)樣(yang)品(pin)采(cai)用(yong)透(tou)射(she)模式。

　　設置掃(sao)描(miao)範圍(wei)，全(quan)波段分光光度計的(de)波長範圍(wei)壹般在(zai)幾百納米(mi)到(dao)幾千納米(mi)之(zhi)間(jian)。如果(guo)只(zhi)關註特定(ding)的(de)波段，可以縮小掃(sao)描(miao)範圍(wei)以(yi)提高(gao)分辨率和檢測(ce)速度；但(dan)如果(guo)對(dui)樣(yang)品(pin)的(de)全(quan)波段信(xin)息(xi)有需(xu)求(qiu)，則應(ying)選(xuan)擇全波段掃描(miao)。

　　調(tiao)整光譜(pu)帶(dai)寬，較(jiao)窄的(de)光譜(pu)帶(dai)寬可(ke)以(yi)提高(gao)分辨率，但(dan)會(hui)降(jiang)低信(xin)號強(qiang)度；較(jiao)寬的(de)光譜(pu)帶(dai)寬則相(xiang)反。通(tong)常需(xu)要(yao)根(gen)據樣(yang)品(pin)的(de)性(xing)質(zhi)和(he)分(fen)析(xi)要(yao)求來(lai)選(xuan)擇合適(shi)的(de)光譜(pu)帶(dai)寬。

　　三、 baseline（基線(xian)）校正

　　1.選(xuan)擇基線(xian)校正方式

　　壹般有空(kong)氣作為(wei)參(can)比的(de)基(ji)線(xian)校正和以空(kong)白(bai)樣(yang)品(pin)（如空(kong)白(bai)溶液、空(kong)白(bai)固體(ti)基(ji)質(zhi)等(deng)）作為(wei)參(can)比的(de)基(ji)線(xian)校正。如果(guo)樣(yang)品(pin)是液(ye)體(ti)，且溶劑(ji)在(zai)近紅外區(qu)域(yu)吸(xi)收(shou)較(jiao)弱，可(ke)以(yi)選(xuan)擇空(kong)氣作為(wei)參(can)比；如果(guo)樣(yang)品(pin)是固(gu)體(ti)或(huo)者(zhe)溶劑(ji)在(zai)近紅外區(qu)域(yu)有吸(xi)收(shou)幹擾(rao)，最好(hao)使用(yong)空(kong)白(bai)樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)基線(xian)校正。

　　2.進(jin)行(xing)基線(xian)校正操(cao)作(zuo)

　　將參(can)比樣(yang)品(pin)（空(kong)氣或(huo)空(kong)白(bai)樣(yang)品(pin)）置於(yu)測(ce)量光路中(zhong)，按照(zhao)儀(yi)器的(de)操(cao)作(zuo)按鈕或(huo)軟(ruan)件提示，啟(qi)動基線(xian)校正程(cheng)序(xu)。在(zai)基線校正過(guo)程(cheng)中(zhong)，要(yao)確(que)保樣(yang)品(pin)艙(cang)（或(huo)測(ce)量光路）密(mi)封良好，沒有漏光或(huo)外界(jie)光線幹擾(rao)。等(deng)待基(ji)線(xian)校正完成(cheng)後(hou)，儀(yi)器會(hui)顯示(shi)壹條平(ping)滑的(de)基(ji)線(xian)，此(ci)時(shi)基線校正成(cheng)功。

　　四、樣(yang)品(pin)測(ce)量

　　1.液體(ti)樣(yang)品(pin)測(ce)量

　　對(dui)於透(tou)射(she)模式下的(de)液(ye)體(ti)樣(yang)品(pin)測(ce)量，將裝有待測(ce)液(ye)體(ti)的(de)比(bi)色(se)皿放入樣(yang)品(pin)槽(cao)中(zhong)。比色(se)皿的(de)光徑長度(du)要(yao)根(gen)據樣(yang)品(pin)的(de)濃度和吸(xi)光度範圍(wei)選(xuan)擇合適(shi)的(de)規(gui)格，壹般有0.5mm、1mm、2mm等(deng)多種(zhong)規格可(ke)供(gong)選(xuan)擇。

　　註意(yi)比(bi)色皿的(de)清(qing)潔(jie)，在(zai)使用(yong)前(qian)要(yao)用(yong)待(dai)測(ce)液(ye)體(ti)沖洗(xi)比色(se)皿2 - 3次(ci)，以(yi)避(bi)免(mian)殘(can)留(liu)的(de)其(qi)他物(wu)質(zhi)對(dui)測(ce)量結(jie)果(guo)產(chan)生(sheng)幹擾(rao)。將比(bi)色皿正確(que)放置在(zai)樣(yang)品(pin)槽(cao)後(hou)，關閉樣(yang)品(pin)倉(cang)蓋，在(zai)軟件中(zhong)選(xuan)擇測(ce)量選(xuan)項(xiang)，儀(yi)器就(jiu)會(hui)開始(shi)對(dui)液體(ti)樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)光譜(pu)掃描(miao)和(he)吸(xi)光度測(ce)量。

　　2.固體(ti)樣(yang)品(pin)測(ce)量

　　在(zai)反射(she)或(huo)漫(man)反射(she)模式下測(ce)量固體(ti)樣(yang)品(pin)時(shi)，要(yao)將固體(ti)樣(yang)品(pin)均(jun)勻(yun)地(di)填(tian)充(chong)在(zai)樣(yang)品(pin)杯或(huo)樣(yang)品(pin)架(jia)上(shang)。對(dui)於粉(fen)末狀(zhuang)樣(yang)品(pin)，要(yao)保證樣(yang)品(pin)表(biao)面(mian)平(ping)整；對(dui)於片(pian)狀(zhuang)或(huo)塊(kuai)狀(zhuang)樣(yang)品(pin)，要(yao)確(que)保樣(yang)品(pin)的(de)表(biao)面(mian)光潔度符(fu)合要(yao)求。

　　將裝有固體(ti)樣(yang)品(pin)的(de)樣(yang)品(pin)杯或(huo)樣(yang)品(pin)架(jia)放置在(zai)測(ce)量位(wei)置，調(tiao)整好測(ce)量光路。有些(xie)儀(yi)器可(ke)能(neng)還需(xu)要(yao)設置樣(yang)品(pin)的(de)折射(she)率(lv)、厚(hou)度(du)等(deng)參(can)數（如果(guo)儀(yi)器有相(xiang)關功能(neng)），然(ran)後(hou)啟(qi)動測(ce)量程(cheng)序(xu)。

　　五(wu)、近紅外全(quan)波段分光光度計數據(ju)處理與(yu)分析(xi)

　　1.光譜(pu)數據查(zha)看

　　測(ce)量完成(cheng)後(hou)，儀(yi)器會(hui)顯示(shi)樣(yang)品(pin)的(de)近(jin)紅外光譜(pu)圖。仔細(xi)觀(guan)察光譜(pu)圖，檢查(zha)是否(fou)有異常的(de)峰(feng)值(zhi)或(huo)噪(zao)聲。如果(guo)發(fa)現(xian)光譜(pu)圖中(zhong)有明顯的(de)異(yi)常(chang)，可(ke)能(neng)是樣(yang)品(pin)制(zhi)備有問題、測(ce)量條件不(bu)合適(shi)或(huo)者(zhe)儀(yi)器故(gu)障等(deng)原(yuan)因導致(zhi)的(de)，需(xu)要(yao)重(zhong)新檢查(zha)和測(ce)量。

　　2.數據(ju)分(fen)析(xi)方法

　　定(ding)性(xing)分析(xi)：通(tong)過(guo)比較(jiao)樣(yang)品(pin)光譜(pu)與已知(zhi)標(biao)準(zhun)物(wu)質(zhi)光譜(pu)的(de)特征(zheng)峰位(wei)置、形(xing)狀(zhuang)和強(qiang)度等(deng)，來(lai)判(pan)斷(duan)樣(yang)品(pin)的(de)成(cheng)分(fen)或(huo)類(lei)別。例如，不(bu)同品(pin)牌的(de)食(shi)用(yong)油(you)在(zai)近紅外光譜(pu)的(de)某(mou)些(xie)波段會有特征(zheng)吸(xi)收(shou)峰，通(tong)過(guo)對(dui)比這(zhe)些(xie)特征(zheng)峰可(ke)以區(qu)分油的(de)種(zhong)類(lei)。

　　定量分析(xi)：如果(guo)進(jin)行(xing)了(le)標準(zhun)樣(yang)品(pin)的(de)測(ce)量，可以(yi)利(li)用(yong)化(hua)學(xue)計量學方法建(jian)立定量分析(xi)模型(xing)。常(chang)見的(de)方法有線性回(hui)歸、主(zhu)成(cheng)分(fen)回(hui)歸（PCR）和(he)偏(pian)最(zui)小二(er)乘(cheng)法（PLS）等(deng)。以PLS為(wei)例，通(tong)過(guo)對(dui)標準(zhun)樣(yang)品(pin)的(de)光譜(pu)數據和(he)濃度數據進(jin)行(xing)建模，得(de)到(dao)壹個(ge)數(shu)學模型(xing)，然(ran)後(hou)將未知樣(yang)品(pin)的(de)光譜(pu)數據代(dai)入模型(xing)，就(jiu)可(ke)以計算(suan)出(chu)未(wei)知(zhi)樣(yang)品(pin)的(de)濃度。

　　六、儀(yi)器維(wei)護(hu)與關(guan)機

　　1.儀(yi)器維(wei)護(hu)

　　測(ce)量完成(cheng)後(hou)，要(yao)及(ji)時清(qing)理樣(yang)品(pin)艙(cang)和(he)比(bi)色皿（如果(guo)有使用(yong)）。對(dui)於液(ye)體(ti)樣(yang)品(pin)殘(can)留(liu)，要(yao)用(yong)適(shi)當(dang)的(de)溶劑(ji)清(qing)洗(xi)幹凈(jing)；對(dui)於固(gu)體(ti)樣(yang)品(pin)殘(can)留(liu)，要(yao)用(yong)軟(ruan)毛(mao)刷或(huo)壓(ya)縮空(kong)氣清(qing)除(chu)幹凈(jing)。

　　定期對(dui)儀(yi)器進(jin)行(xing)校準(zhun)和(he)維(wei)護(hu)，包括(kuo)波長校準(zhun)、吸(xi)光度校準(zhun)等(deng)。壹般建(jian)議按(an)照儀(yi)器的(de)使用(yong)手(shou)冊(ce)規定(ding)的(de)周(zhou)期進(jin)行(xing)校準(zhun)，以(yi)保證儀(yi)器測(ce)量的(de)準(zhun)確(que)性。

　　2.關(guan)機操(cao)作(zuo)

　　在(zai)關機前，要(yao)先(xian)退出(chu)測(ce)量軟件，然(ran)後(hou)關閉儀(yi)器的(de)電源(yuan)開關(guan)。如果(guo)是連接了(le)計算(suan)機的(de)分(fen)光光度計，還要(yao)先(xian)關閉(bi)與(yu)儀(yi)器相(xiang)連的(de)計算(suan)機軟(ruan)件和(he)設(she)備，再(zai)關閉(bi)儀(yi)器電源(yuan)，以避(bi)免(mian)數據丟(diu)失(shi)或(huo)儀(yi)器損(sun)壞。