半球(qiu)發(fa)射率測試(shi)系統是壹(yi)種用(yong)於(yu)測量材(cai)料(liao)半球(qiu)發(fa)射率的裝(zhuang)置,其工作(zuo)原(yuan)理基(ji)於(yu)熱(re)輻(fu)射平(ping)衡法、熱(re)絲(si)法等技術(shu)。以(yi)下是對(dui)半球(qiu)發(fa)射率測試(shi)系統的工作(zuo)原(yuan)理與(yu)技(ji)術(shu)的(de)詳(xiang)細(xi)解析(xi): 1.穩(wen)態(tai)卡計法
原(yuan)理:穩(wen)態(tai)卡計法通(tong)過在(zai)樣品達到熱(re)平(ping)衡狀態(tai)時(shi),利(li)用(yong)斯蒂(di)芬(fen)-波(bo)爾(er)茲曼(man)定(ding)律(lv)來(lai)測量材(cai)料(liao)的半球(qiu)發(fa)射率。當(dang)樣(yang)品(pin)溫(wen)度穩(wen)定(ding)後(hou),通(tong)過測(ce)量加(jia)熱(re)器(qi)的(de)功(gong)率、樣品(pin)溫度(du)以(yi)及(ji)室內(nei)壁(bi)溫(wen)度,可(ke)以(yi)計算出樣品(pin)的半球(qiu)發(fa)射率。
優(you)點:測(ce)試(shi)精(jing)度(du)高,適(shi)用(yong)於(yu)寬(kuan)溫(wen)區(qu)範圍,且不受材(cai)料(liao)導熱(re)系數和比(bi)熱(re)容的限制。
2.瞬(shun)態(tai)卡計法
原(yuan)理:瞬(shun)態(tai)卡計法通(tong)過在(zai)短時(shi)間內連續測(ce)量樣(yang)品在(zai)不同(tong)溫度下的發(fa)射率,要(yao)求(qiu)樣品(pin)具(ju)有(you)良(liang)好的(de)導熱(re)性(xing),以(yi)保證冷(leng)卻過程(cheng)中無溫度(du)梯度。這(zhe)種方(fang)法需要(yao)獲(huo)取(qu)材(cai)料(liao)在(zai)不同(tong)溫度下的比(bi)熱(re)容數據(ju)。
應用(yong)場景(jing):適(shi)用(yong)於(yu)導熱(re)性(xing)好的(de)材(cai)料(liao),但不適(shi)用(yong)於(yu)低(di)熱(re)導(dao)率材(cai)料(liao)。
3.量熱(re)法
原(yuan)理:量熱(re)法通(tong)過測(ce)量樣(yang)品吸收或(huo)放(fang)出的熱(re)量來(lai)確定(ding)其半球(qiu)發(fa)射率。在(zai)真(zhen)空條(tiao)件(jian)下,量熱(re)法被認為(wei)是壹(yi)種高精(jing)度(du)的絕(jue)對測(ce)量方(fang)法。
分類(lei):包括穩(wen)態(tai)法和瞬(shun)態(tai)法兩種主(zhu)流(liu)方(fang)法。
穩(wen)態(tai)法:如保護電熱(re)法、間接(jie)電(dian)熱(re)法等,通(tong)過維(wei)持(chi)樣(yang)品(pin)在(zai)恒定(ding)溫(wen)度(du)下進行測量。
瞬(shun)態(tai)法:如輻射加(jia)熱(re)法、直接(jie)通(tong)電熱(re)脈(mai)沖法等,通(tong)過快(kuai)速(su)加熱(re)樣(yang)品(pin)並測量其溫度(du)變(bian)化(hua)來(lai)推(tui)算發(fa)射率。
4.光譜(pu)分析(xi)法
原(yuan)理:利(li)用(yong)紅外(wai)光(guang)譜(pu)儀等(deng)設備(bei)測量材(cai)料(liao)在(zai)不同(tong)波長(chang)下的輻(fu)射強(qiang)度(du),從而(er)計算其半球(qiu)發(fa)射率。這(zhe)種方(fang)法可(ke)以(yi)提供關於(yu)材(cai)料(liao)輻射特(te)性的詳(xiang)細(xi)信(xin)息(xi)。
應用(yong):廣(guang)泛應(ying)用(yong)於(yu)材(cai)料(liao)科學(xue)、熱(re)工(gong)程(cheng)設計等(deng)領(ling)域(yu)。
