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在發(fa)展(zhan)中(zhong)求生(sheng)存,不斷(duan)完(wan)善(shan),以(yi)良好信譽(yu)和(he)科學(xue)的管(guan)理促(cu)進(jin)企業(ye)迅(xun)速(su)發(fa)展(zhan)
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近(jin)紅外(wai)全波(bo)段分光光度計(ji)是壹種重要(yao)的分析(xi)儀器(qi),在(zai)多個(ge)領(ling)域有(you)著(zhe)廣泛的應用(yong)。以(yi)下(xia)為您詳細介(jie)紹(shao)其科學原理(li)與(yu)實(shi)際(ji)應(ying)用(yong):近(jin)紅外(wai)全波(bo)段分光光度計(ji)的科學(xue)原理(li):1.近(jin)紅外(wai)光譜(pu)的產生(sheng):當近(jin)紅外(wai)光照(zhao)射(she)到(dao)物質(zhi)上時(shi),物(wu)質中(zhong)的化學鍵會吸(xi)收(shou)特定(ding)波(bo)長的近(jin)紅外(wai)光,從而引起(qi)分(fen)子(zi)振動和(he)轉動能(neng)級(ji)的躍(yue)遷(qian)。不同的物質(zhi)由(you)於其分子(zi)結構(gou)和(he)化學組成不同,吸(xi)收(shou)的近(jin)紅外(wai)光波(bo)長也不同,因此在近(jin)紅外(wai)波(bo)段會產生特(te)征吸(xi)收(shou)光譜(pu)。2.分(fen)光原理(li):分光光度計(ji)通過(guo)光學系(xi)統(tong)將入(ru)射的近(jin)紅外(wai)光分解(jie)成(cheng)不同波(bo)長的光。常見的分光方式有(you)衍射光柵分(fen)光和(he)傅(fu)裏(li)葉(ye)變換分(fen)...
查看(kan)詳情便(bian)攜式半球發(fa)射(she)率測試(shi)系統(tong)主(zhu)要用(yong)於(yu)測(ce)量物體(ti)的發射(she)率,尤(you)其是在熱輻射領(ling)域中,廣泛應(ying)用(yong)於(yu)材料(liao)科學、環(huan)境監(jian)測(ce)等方面(mian)。半球發(fa)射(she)率測試(shi)是通過(guo)測量物體(ti)表(biao)面(mian)反射的熱輻射與(yu)其總輻射之(zhi)間的關系(xi)來(lai)計算(suan)物體(ti)的發射(she)率。以(yi)下(xia)是便攜式半球發(fa)射(she)率測試(shi)系統(tong)的主(zhu)要測試(shi)標準和(he)操作(zuo)步驟。1.測(ce)試(shi)標(biao)準(zhun)在進(jin)行半球發(fa)射(she)率測試(shi)時,通常會參(can)考(kao)以(yi)下(xia)標(biao)準(zhun):ASTME1933-20《標準發射(she)率(lv)測(ce)量方法(fa):利(li)用(yong)輻射計(ji)進(jin)行測(ce)試》ISO9613-1《聲學——環(huan)境噪聲測量——第(di)1部(bu)分:基本測(ce)量程序(xu)》GB/T21348-2008《材料(liao)發射率(lv)測(ce)...
查看(kan)詳情傅(fu)裏(li)葉(ye)紅(hong)外(wai)光譜(pu)儀(yi)是壹種基於(yu)傅(fu)裏(li)葉(ye)變換原理(li)的紅外(wai)光譜(pu)分(fen)析儀器,通過(guo)檢測物質(zhi)對紅(hong)外(wai)光的吸(xi)收(shou)特性(xing),分析(xi)其分子(zi)結構(gou)、化學鍵和(he)官能(neng)團(tuan)信息(xi)。以(yi)下(xia)是其在材料(liao)科學、醫(yi)療(liao)化工(gong)、石(shi)油等領(ling)域的應用(yong)及(ji)具(ju)體(ti)案例:壹(yi)、傅(fu)裏(li)葉(ye)紅(hong)外(wai)光譜(pu)儀(yi)材料(liao)科學領(ling)域1.高分子(zi)材料(liao)分析應(ying)用(yong):鑒(jian)定(ding)聚合(he)物(wu)類型、研(yan)究分子(zi)鏈構型、氧(yang)化降解程度(du)及(ji)添加(jia)劑(如增(zeng)塑(su)劑、阻燃劑)的分布(bu)。案例:通過(guo)FTIR分析(xi)塑(su)料(liao)薄膜的官能(neng)團(tuan)變化,評估老化性能;檢測橡膠(jiao)中填料(liao)(如炭黑)的分散(san)性。2.無(wu)機(ji)材料(liao)表(biao)征應用(yong):分(fen)析(xi)陶(tao)瓷(ci)、玻(bo)璃(li)、水泥等材料(liao)的化學鍵結構(gou)、雜質...
查看(kan)詳情傅(fu)裏(li)葉(ye)紅(hong)外(wai)光譜(pu)儀(yi)短測量時間的機(ji)制:1.全波(bo)段同步采(cai)集(ji)FTIR在(zai)壹次(ci)掃描中獲取整個紅(hong)外(wai)波(bo)段的光譜(pu),無(wu)需(xu)逐(zhu)點分(fen)光,測量時間僅需(xu)秒級(傳(chuan)統(tong)色(se)散型儀(yi)器需(xu)幾(ji)分(fen)鐘(zhong)至(zhi)半小時(shi))。2.快速(su)幹涉(she)數(shu)據采(cai)集(ji)現(xian)代FTIR配備(bei)高速(su)動(dong)鏡驅動系(xi)統(tong)(如磁(ci)懸浮或線(xian)性馬達),掃描壹次(ci)僅需(xu)數(shu)秒。結合(he)高靈敏度探(tan)測器(qi)和(he)實(shi)時(shi)數(shu)字(zi)信號處理(li),實(shi)現(xian)快速(su)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)與(yu)處(chu)理(li)。3.典(dian)型測(ce)量周期(qi)單(dan)次(ci)掃描:0.1~1秒(取決(jue)於(yu)分(fen)辨(bian)率(lv)要(yao)求)。多次(ci)平均(jun):為提升(sheng)信噪比,常進(jin)行數(shu)十(shi)次(ci)至(zhi)數(shu)百次(ci)掃描平均(jun),總時間仍(reng)遠低於(yu)傳(chuan)統(tong)儀器(qi)。傅(fu)裏(li)葉(ye)紅(hong)外(wai)光譜(pu)儀(yi)應用(yong)場(chang)景(jing)...
查看(kan)詳情提升(sheng)紫外(wai)光譜(pu)儀(yi)綜(zong)合(he)評(ping)估(gu)系(xi)統(tong)性能(neng)的關鍵(jian)因素(su)需(xu)從(cong)儀(yi)器(qi)設計(ji)、環(huan)境控(kong)制、數據處理(li)算(suan)法(fa)、校準與(yu)維(wei)護(hu)等多個(ge)維(wei)度(du)綜(zong)合(he)優(you)化。以(yi)下(xia)是關鍵因素(su)的詳細分(fen)析(xi):壹、儀器(qi)硬件性能(neng)1.光源穩(wen)定(ding)性與(yu)波(bo)長覆(fu)蓋(gai)光源選(xuan)擇:采(cai)用(yong)高穩定(ding)性(xing)氘燈或氘(dao)鎢雙(shuang)光源系(xi)統(tong),確(que)保(bao)紫(zi)外(wai)區的連續(xu)光譜(pu)覆(fu)蓋(gai),減(jian)少(shao)光源漂(piao)移(yi)對測(ce)試結果的影(ying)響(xiang)。波(bo)長精度:使(shi)用(yong)高精度凹(ao)面(mian)全息(xi)光柵,提高波(bo)長分辨(bian)率(lv),避(bi)免波(bo)段重疊或漏(lou)檢。光強均(jun)勻性:優(you)化光源與(yu)單(dan)色(se)器的耦合(he)效率(lv),確(que)保(bao)不同波(bo)長下(xia)的光強分(fen)布(bu)均(jun)勻,避免信號飽和(he)或噪聲過大。2.檢測器靈(ling)敏度與(yu)動(dong)態(tai)範圍檢測器類(lei)型:選(xuan)擇...
查看(kan)詳情紫外(wai)光譜(pu)儀(yi)綜(zong)合(he)評(ping)估(gu)系(xi)統(tong)是壹種用(yong)於(yu)分(fen)析(xi)樣(yang)品在紫外(wai)-可見光波(bo)段吸(xi)收(shou)特性(xing)的自(zi)動(dong)化平臺,廣泛應(ying)用(yong)於(yu)化學、生物、醫(yi)藥、環(huan)境監(jian)測(ce)等領(ling)域。其功能(neng)不僅限於光譜(pu)采(cai)集(ji),還(hai)涵(han)蓋(gai)數據處理、儀器(qi)控制、合規(gui)性(xing)驗(yan)證等全流(liu)程。以(yi)下(xia)是對其功能(neng)的全面(mian)解析(xi):壹(yi)、紫外(wai)光譜(pu)儀(yi)綜(zong)合(he)評(ping)估(gu)系(xi)統(tong)核心(xin)光譜(pu)分(fen)析功能(neng)1.高精度光譜(pu)采(cai)集(ji)波(bo)長範圍(wei):覆(fu)蓋(gai)紫外(wai)到(dao)可見光,部(bu)分型號(hao)可擴展(zhan)至(zhi)近(jin)紅外(wai)。分辨(bian)率(lv):典(dian)型值(zhi)≤1nm,支持(chi)窄帶寬(kuan)掃描以(yi)捕(bu)捉(zhuo)尖銳峰。光度精度:吸(xi)光度(Abs)誤(wu)差(cha)≤±0.002,確(que)保(bao)定(ding)量分析(xi)可靠(kao)性。2.多模(mo)式檢測單(dan)...
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