炭(tan)黑(hei)分散度測試(shi)儀是壹種用(yong)於(yu)測量(liang)炭黑(hei)或(huo)類似(si)材(cai)料(liao)在(zai)液體(ti)中的(de)分(fen)散度的(de)儀器(qi)。其(qi)主要(yao)作用包括(kuo)：1.評(ping)估(gu)炭黑(hei)分散性：通過(guo)測量(liang)炭黑(hei)顆粒在(zai)液體(ti)中的(de)均(jun)勻(yun)程度，可評(ping)估(gu)其(qi)分散性能(neng)。分散度測試(shi)儀可以檢(jian)測到(dao)炭黑(hei)顆粒的(de)均(jun)勻(yun)性(xing)和(he)聚集(ji)情況，從(cong)而評(ping)估(gu)炭黑(hei)在(zai)所選(xuan)液體中的(de)分(fen)散度。2.優化產(chan)品配方：在(zai)橡(xiang)膠(jiao)、瀝青(qing)、油墨、塗(tu)料(liao)等(deng)工業(ye)領(ling)域(yu)，炭(tan)黑(hei)通常被用(yong)作填充劑(ji)和(he)增強(qiang)劑(ji)。通過(guo)測試(shi)炭(tan)黑(hei)的(de)分(fen)散度，可以幫助優化產(chan)品的(de)配(pei)方(fang)，確(que)保(bao)炭(tan)黑(hei)能(neng)夠均(jun)勻(yun)地(di)分(fen)散在(zai)所選(xuan)的(de)液(ye)體(ti)基(ji)質(zhi)中(zhong)，以(yi)提(ti)高(gao)產(chan)品的(de)性(xing)能(neng)和(he)穩定(ding)性。3.質量(liang)控制：對於(yu)生(sheng)產(chan)炭黑(hei)相關(guan)產(chan)品的(de)企(qi)業(ye)...

等(deng)效熱阻(zu)測試(shi)儀是壹種用(yong)於(yu)測量(liang)半導體(ti)器(qi)件(jian)以及其(qi)他電子設備熱(re)特(te)性的(de)先(xian)進儀器(qi)。它(ta)能(neng)夠通過(guo)靜(jing)態(tai)和(he)動態(tai)兩(liang)種測試(shi)模(mo)式，獲(huo)取(qu)封裝半導體(ti)器(qi)件(jian)的(de)熱(re)特(te)性數(shu)據(ju)。其(qi)各個組成部分的(de)作(zuo)用(yong)如(ru)下(xia)：1.熱瞬態(tai)測試(shi)儀T3Ster：這是主要測試(shi)設(she)備，用(yong)於(yu)執行熱特(te)性測試(shi)。它(ta)可(ke)以(yi)快速(su)獲(huo)取(qu)封裝半導體(ti)器(qi)件(jian)及其(qi)他電子設備的(de)熱(re)特(te)性數(shu)據(ju)。2.結構(gou)函(han)數(shu)分(fen)析法(fa)：這是壹種分(fen)析(xi)方(fang)法(fa)，能(neng)夠詳細(xi)分析(xi)器(qi)件(jian)在(zai)熱傳(chuan)導路(lu)徑上每層結構(gou)的(de)熱(re)學(xue)性(xing)能(neng)，包括(kuo)熱阻(zu)和(he)熱容參(can)數(shu)，從(cong)而構(gou)建出(chu)器(qi)件(jian)的(de)等(deng)效熱學模(mo)型(xing)。3.靜(jing)態(tai)測試(shi)法(fa)（StaticMode）與(yu)動(dong)態(tai)測試(shi)法(fa)（D...